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用一句話來概括，就是說隱裂是光伏組件的缺陷。

隱裂是指電池片(組件)受到較大的機(jī)械或熱應(yīng)力時(shí)，可能在電池單元產(chǎn)生肉眼不易察覺的隱性裂紋。

近幾年，晶硅組件廠家為了降低成本，晶硅組件越做越薄，從而降低了電池片防止機(jī)械破壞的能力，從而導(dǎo)致了在運(yùn)輸和安裝過程中組件隱裂的產(chǎn)生，下面讓我們詳細(xì)的了解下組件的隱裂。

1、隱裂的形狀類型

根據(jù)電池片隱裂的形狀，可分為5類：樹狀裂紋、綜合型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個(gè)電池片的裂紋。

2、隱裂對光伏組件的影響

不同的隱裂，對電池片功能造成的影響也是不一樣的。先來看一張電池片的放大圖。

根據(jù)晶硅電池的結(jié)構(gòu)，如上圖，電池片產(chǎn)生的電流要依靠“表面的主柵線及垂直于主柵線的細(xì)柵線”搜集和導(dǎo)出。當(dāng)隱裂導(dǎo)致細(xì)柵線斷裂時(shí)，細(xì)柵線無法將收集的電流輸送到主柵線，將會(huì)導(dǎo)致電池片部分甚至全部失效。

基于上述原因，我們可以看出對電池片功能影響最大的，是平行于主柵線的隱裂(第4類)。根據(jù)研究結(jié)果，50%的失效片來自于平行于主柵線的隱裂。

45°傾斜裂紋(第3類)的效率損失是平行于主柵線損失的1/4。

垂直于主柵線的裂紋(第5類)幾乎不影響細(xì)柵線，因此造成電池片失效的面積幾乎為零。

相比于晶硅電池表面的柵線，薄膜電池表面整體覆蓋了一層透明導(dǎo)電膜，所以這也是薄膜組件無隱裂的一個(gè)原因。

有研究顯示，組件隱裂嚴(yán)重時(shí)，會(huì)導(dǎo)致組件功率的損失，但是損失的大小并不一定。裂紋對組件電性能的影響小，而裂片對組件功率損失非常大;老化試驗(yàn)，即組件在工作或非工作的情況下，溫、濕度變化可能會(huì)引起電池片隱裂的加劇;組件中沒有隱裂的電池片比隱裂的電池片抗老化能力強(qiáng)。

3、檢測隱裂的手段

EL(Electroluminescence，電致發(fā)光)是簡單有效的檢測隱裂的方法。其檢測原理如下。

電池片的核心部分是半導(dǎo)體PN結(jié)，在沒有其它激勵(lì)(例如光照、電壓、溫度)的條件下，其內(nèi)部處于一個(gè)動(dòng)態(tài)平衡狀態(tài)，電子和空穴的數(shù)量相對保持穩(wěn)定。

如果施加電壓，半導(dǎo)體中的內(nèi)部電場將被削弱，N區(qū)的電子將會(huì)被推向P區(qū)，與P區(qū)的空穴復(fù)合(也可理解為P區(qū)的空穴被推向N區(qū)，與N區(qū)的電子復(fù)合)，復(fù)合之后以光的形式輔射出去，即電致發(fā)光。

當(dāng)被施加正向偏壓之后，晶體硅電池就會(huì)發(fā)光，波長1100nm左右，屬于紅外波段，肉眼觀測不到。因此，在進(jìn)行EL測試時(shí)，需利用CCD相機(jī)輔助捕捉這些光子，然后通過計(jì)算機(jī)處理后以圖像的形式顯示出來。

給晶硅組件施加電壓后，所激發(fā)出的電子和空穴復(fù)合的數(shù)量越多，其發(fā)射出的光子也就越多，所測得的EL圖像也就越亮;如果有的區(qū)域EL圖像比較暗，說明該處產(chǎn)生的電子和空穴數(shù)量較少(例如圖3中電池中部)，代表該處存在缺陷(復(fù)合中心);如果有的區(qū)域完全是暗的，代表該處沒有發(fā)生電子和空穴的復(fù)合(圖3和圖4中紅線所標(biāo)處)，也或者是所發(fā)光被其它障礙所遮擋(圖3和圖4主柵線處)，無法檢測到信號(hào)。

4、小結(jié)

1)隱裂種類眾多，但不是所有的隱裂都會(huì)對電池片有影響;

2)組件生產(chǎn)、運(yùn)輸、安裝和維護(hù)過程中，考慮到晶硅組件的易裂特征，需要在安裝電站的各個(gè)過程注意并改進(jìn)作業(yè)流程，盡量減少組件隱裂的產(chǎn)生。

3)對于檢測隱裂，目前EL是最有效的方法。

4)導(dǎo)致組件隱裂的原因眾多，大家要弄清楚原因后再追究責(zé)任，不能盲目聽信他人之言。 

原標(biāo)題：光伏組件的隱裂!